WEKO3
アイテム
水素化アモルファスシリコン／結晶シリコンヘテロ接合太陽電池の陽電子消滅法に基づく界面近傍微細構造評価
http://hdl.handle.net/10487/00018191
http://hdl.handle.net/10487/00018191171b8f23-a530-41e9-b87e-2b62df2b7cd4
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
13 水素化アモルファスシリコン／結晶シリコンヘテロ接合太陽電池の陽電子消滅法に基づく界面近傍微細構造評価 (1.8 MB)
|
|
| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2022-10-11 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 水素化アモルファスシリコン／結晶シリコンヘテロ接合太陽電池の陽電子消滅法に基づく界面近傍微細構造評価 | |||||
| 言語 | ja | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Characterization of the near-interface microstructure of a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells based on positron annihilation spectroscopy | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
松木, 伸行
× 松木, 伸行 |
|||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 受賞研究の紹介 | |||||
| 書誌情報 |
神奈川大学工学研究 en : Technology reports, Kanagawa University 号 4, p. 55-57, 発行日 2021-03-31 |
|||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 2433-5169 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA12816225 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 神奈川大学工学研究所 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | RESEARCH INSTITUTE FOR ENGINEERING, KANAGAWAUNIVERSITY | |||||
