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  1. C0700 総合理学研究所
  2. 03 紀要論文
  3. 01 Science Journal of Kanagawa University
  4. 0360 36巻

Development of Transparent Conductive Probe for Tunnel Electron Luminescence Microscopy

https://doi.org/10.24792/0002001838
https://doi.org/10.24792/0002001838
4718919f-3328-4ef1-89ef-50a4743957f3
名前 / ファイル ライセンス アクション
03 03 Development of Transparent Conductive Probe for Tunnel Electron Luminescence Microscopy.pdf (1.4 MB)
アイテムタイプ 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2025-09-16
タイトル
タイトル Development of Transparent Conductive Probe for Tunnel Electron Luminescence Microscopy
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 scanning tunnel microscope
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 luminescence
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 nanostructure
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 optical properties
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 conductive transparent probe
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.24792/0002001838
ID登録タイプ JaLC
著者 星野, 靖

× 星野, 靖

WEKO 33602

en Hoshino, Yasushi

ja 星野, 靖

ja-Kana ホシノ, ヤスシ

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Omae, Yuto

× Omae, Yuto

en Omae, Yuto

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関, 裕平

× 関, 裕平

en Seki, Yuhei

ja 関, 裕平

ja-Kana セキ, ユウヘイ

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Murashita, Tooru

× Murashita, Tooru

en Murashita, Tooru

ja-Kana ムラシタ, トオル

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抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 Nanometer-sized materials show special electronic and optical properties due to quantum size effects. While the evaluation of these properties is quite important in material science and engineering in the next generation, the methods to simultaneously measure electronic and optical properties within the nanometer level have not been currently established yet. Tipcollected tunneling electron luminescence microscope is a novel microscope using a transparent conductive (CT) probe and can simultaneously evaluate the electronic and optical properties as well as the atomic configuration at the same lattice position. Since the reproducible production of the CT probe is difficult with keeping the constant quality, investigation is conducted to simplify the production process and improve the quality. In this study, as a preliminary step to deposit an indium tin oxide (ITO) film, which is a transparent conductive material, onto the probe surface, an ITO film as deposited onto a quartz glass substrate with almost the same compositions as the quartz fiber. We investigated the changes in the electrical conductivity, optical transparency, and crystalline structure by following annealing treatments and found the optimal growth of the ITO film on the quartz fiber.
言語 en
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 原著
言語 ja
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 Full-Length Paper By a grant from Research Institute for Integrated Science, Kanagawa University
言語 en
書誌情報 ja : Science Journal of Kanagawa University
en : Science Journal of Kanagawa University

巻 36, p. 15-19, 発行日 2025-07-31
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 1880-0483
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12068302
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
出版者
出版者 神奈川大学総合理学研究所
言語 ja
出版者
出版者 Research Institute for Integrated Science, Kanagawa University
言語 en
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Ver.1 2025-09-17 02:10:35.491126
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